Ferromagnetic Resonance Study of Fe/Cu Multilayer Thin Film

Topkaya, R.

doi:10.1007/s10948-016-3920-5

Cited by 10 publications

(1 citation statement)

References 34 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Ayrıca (𝜔 𝛾 ⁄ ) değeri her film için 3200 Oe olarak hesaplanmıştır. Bu hesaplanan değerden ℎ𝛾 = 𝑔𝛽𝐻 bağlantısı kullanılarak 𝑔faktörü değeri yaklaşık 2.2 olarak elde edilir (Topkaya, 2017). Literatürde de permalloy'un 𝑔 değerinin, sıcaklık sıvı nitrojen sıcaklığından oda sıcaklığına yükseltildiğinde ~ 2.07'den ~ 2.18'e yükseldiği bulunmuştur (Kittel, 1949).…”

Section: Manyetik öZelliklerin Analiziunclassified

Magnetic and Structural Characterization of Permalloy (Ni79Fe21) Thin Films with Uniaxial Magnetic Anisotropy

Kocaman

2022

Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

View full text Add to dashboard Cite

Bu çalışmada, Si(100)/SiO2(~200 nm) alttaş üzerine 4 - 20 nm arasında değişen kalınlıklarda büyütülen permalloy ince filmlerin yapısal ve manyetik özellikleri araştırılmıştır. Permalloy ince filmler eğik açılı magnetron saçtırma tekniği kullanılarak yüksek vakumlu odada hazırlandı. X-ışını foto-elektron spektroskopisi ölçüm sonuçlarından, permalloyun alaşım komposizyonu oranı %21 Fe ve %79 Ni olarak bulundu. X-ışını kırınım ve yansıma ölçümleri, permalloy filmlerinin (111) yönünde, düşük yüzey pürüzlülüğüne sahip ve nominal kalınlıklarda büyüdüğünü gösterdi. Elde edilen ince filmlerin manyetik özellikleri ferromanyetik rezonans (FMR) ve titreşimli örnek manyetometresi (VSM) teknikleri kullanılarak araştırıldı. Film hazırlamada kullanılan eğik biriktirme nedeniyle, filmlerde düzlem içi tek-eksenli manyetik anizotropi gözlemlendi. Mıknatıslanma yönüne göre serbest enerji minimizasyonu yöntemini kullanan bir bilgisayar kodu yazılarak deneysel FMR verileri simule edildi ve bu sayede filmlerin tek eksenli anizotropi sabitleri belirlendi. Ayrıca, zorlayıcı alan ve anizotropi alanı gibi manyetik özelliklerin kalınlığa bağlı olarak değişimleri tartışıldı.

show abstract

Section: Manyetik öZelliklerin Analiziunclassified