This paper reviews the electron-impact excitation (EIE) measurements at electron beam ion trap (EBIT) facilities in the last 20 years. EIE cross sections are important atomic parameters fundamental to understanding the spectroscopic properties of ions. The properties of an EBIT make it an ideal device to measure the EIE cross section of highly charged ions. As a matter of fact, a report of EIE measurement was among the first papers published on the first EBIT ever built, EBIT-I. Since then, a wide range of measurements have been performed for K-shell and L-shell highly charged ions of Ti, V, Cr, Mn, Fe, Xe, and Ba using a combination of crystal spectrometers and solid-state X-ray detectors. In the last few years, the measurements were extended to all strong Fe L-shell lines by using a 6 × 6 pixel array microcalorimeter.Résumé : Nous passons ici en revue les mesures d'excitation par impact électronique (EIE) faites à différents pièges ioniques avec faisceau d'électrons au cours de 20 dernières années. Les sections efficaces EIE constituent d'importants paramètres atomiques, fondamentaux dans le compréhension des propriétés spectroscopiques des ions. Les caractéristiques du piège ionique à faisceau d'électrons en font un appareil idéal pour mesurer les sections efficaces EIE des ions fortement ionisés. De fait, un rapport sur des mesures EIE a fait partie des toutes premières publications faisant état des résultats du premier piège à être construit, EBIT-I. Depuis, beaucoup de mesures ont été faites dans les couches K et L d'ions fortement chargés de Ti, V, Cr, Mn, Fe, Xe et Ba, en utilisant une combinaison de spectromètres à cristaux et de détecteurs état solide pour les rayons-X. Ces dernières années, les mesures ont été étendues à toutes les fortes lignes de la couche L du Fe en utilisant un calorimètre en réseau de 6 × 6 pixels.[Traduit par la Rédaction]