2016
DOI: 10.17277/vestnik.2016.03.pp.456-462
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Information System for Detecting Defects in Conductors

Abstract: Ключевые слова: дефектные зоны; машинная обработка; персональный компьютер; полевые транзисторы; цифровая фотокамера; электронно-оптичесая муаровая картина; электронный микроскоп.Аннотация: С помощью машинной обработки муаровых картин выявле-ны топография магнитного поля плоского проводника, местонахождение дефек-тов, их конфигурация и размер, а также степень локальности электромагнитного поля. Показано, что информативными критериями в данном случае являются коэффициент искажения муарового изображения и фракта… Show more

Help me understand this report

This publication either has no citations yet, or we are still processing them

Set email alert for when this publication receives citations?

See others like this or search for similar articles