JCPDS — International Centre for Diffraction Data Sample Preparation Methods in X-Ray Powder Diffraction

Abstract

The aim of any diffraction experiment is to obtain reproducible data of high accuracy and precision so that the data can be correctly interpreted and analyzed. Various methods of sample preparation have been devised so that reproducibility, precision and accuracy can be obtained. The success of a diffraction experiment will often depend on the correct choice of preparation method for the sample being analyzed and for the instrument being used in the analysis.A diffraction pattern contains three types of useful information: the positions of the diffraction maxima, the peak intensities, and the intensity distribution as a function of diffraction angle. This information can be used to identify and quantify the contents of the sample, as well as to calculate the material's crystallite size and distribution, crystallinity, and stress and strain. The ideal preparation for a given experiment depends largely on information desired.

The Solubility of Tugarinovite (MoO2) in H2O at Elevated Temperatures and Pressures

“…X-ray powder diffraction data collected from the starting material using CuK radiation is compared to tugarinovite [29] in Table 1. Raman spectra of the starting material, obtained using a Horiba Jobin-Yvon LabRam HR confocal instrument equipped with a 100 mW 532 nm Nd-YAG diode laser (Toptica Photonics) and a Synapse charge-coupled device (CCD; Horiba Jobin-Yvon) detector at St. Mary's University, Halifax, are shown in Figure 2.…”

Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria

“…A simetria é definida pelos parâmetros de rede de cada uma delas. Esses parâmetros são os lados da cela unitária, definidos pelos vetores a , b e c nas direções x, y e z respectivamente e os ângulos α, β e γ, sendo os ângulos entre z e y; z e x; e x e y, respectivamente [10] .…”

“…Em materiais sólidos com estrutura cristalina, os seus átomos estão regularmente espalhados. Quando o comprimento de onda da radiação incidente é da ordem do espaçamento entre os átomos haverá, em direções específicas, interferência construtiva entre as ondas espalhadas pela incidência em cada átomo [10] .…”

“…Cada um desses números corresponde ao inverso do valor em que o plano cristalino corta um dos eixos convencionais. Eles são designados pelas letras h, k e l, sendo que h corta o eixo x, k corta o eixo y e l corta o eixo z. O uso desses índices para a representação dos planos cristalinos facilita muito porque trabalhamos apenas com números em vez das equações geométricas do plano [10] .…”

“…7 mostra-se, esquematicamente, um feixe monocromático de raios X, com comprimento de onda λ, incidindo em um conjunto de planos cristalinos com espaçamento "d" sob um ângulo de incidência θ [10] .…”