На основе результатов расчетов электронной зонной структуры полупроводников Sb2Te3, Ge, Te и полуметалла Sb, выполненных методом функционала электронной плотности, найдены параметры критических точек в распределении электронной плотности (максимумов, минимумов и седловых точек) в кристаллической решетке вышеуказанных веществ. Полученные данные использованы для анализа природы химической связи в Sb2Te3. Работа выполнена при поддержке гранта РФФИ N 16-32-00107. DOI: 10.21883/FTT.2017.07.44587.454