1987
DOI: 10.1016/0042-207x(87)90261-2
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

LEED method to study surface atom vibrations

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
2
1

Citation Types

0
12
0
3

Year Published

1989
1989
2016
2016

Publication Types

Select...
8

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 27 publications
(15 citation statements)
references
References 26 publications
0
12
0
3
Order By: Relevance
“…The LEED diffraction patterns were obtained on a screen of a four-grid quasi-spherical analyzer. The LEED system was equipped with a photoelectric registration device for measurements of the intensity of diffraction reflexes [21]. The IS spectra were collected using a cylindrical mirror analyzer.…”
Section: Methodsmentioning
confidence: 99%
See 1 more Smart Citation
“…The LEED diffraction patterns were obtained on a screen of a four-grid quasi-spherical analyzer. The LEED system was equipped with a photoelectric registration device for measurements of the intensity of diffraction reflexes [21]. The IS spectra were collected using a cylindrical mirror analyzer.…”
Section: Methodsmentioning
confidence: 99%
“…The experiments were carried out in a combined ultrahigh-vacuum spectrometer [21]. AES spectroscopy was used, in addition, to characterize the chemical cleanness of the investigated sample surfaces.…”
Section: Methodsmentioning
confidence: 99%
“…Експериментальна установка для прове-дення пошарової аналізи характеристик поверхні стопів предста-вляє собою двокамерну надвисоковакуумну комбіновану установ-ку, яка уможливлює проводити пошарову аналізу як руйнівни-ми, так і неруйнівними методами, а також дослідити вплив зов-нішніх факторів на фізико-хемічний стан поверхні в поверхневих ОСОБЛИВОСТІ ДИНАМІКИ АТОМІВ У ПОВЕРХНЕВІЙ ОБЛАСТІ СТОПІВ 157 шарах металів і стопів [16][17][18][19][20][21]. Даний прилад уможливлює дос-ліджувати поверхню методою дифракції повільних електронів (ДПЕ), Оже-електронної спектроскопії (ОЕС) і спектроскопії ха-рактеристичних втрат енергії електронів (СХПЕЕ).…”
Section: матеріяли та методика дослідженняunclassified
“…Для РЕМ-досліджень було вибрано два режими зйомки поверхні за допомогою детектора вторинних електронів та обернено розсіяних електронів. [7]. Камера була оснащена квазисферичним енергоаналізатором, який дозволяв ре-алізувати наступні методи дослідження: Оже-електронна спектрос-копія (ОЕС), спектроскопія втрат енергії електронів та дифракція повільних електронів.…”
Section: експериментunclassified