2019 IEEE East-West Design &Amp; Test Symposium (EWDTS) 2019
DOI: 10.1109/ewdts.2019.8884434
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Masking Internal Node Faults and Trojan Circuits in Logical Circuits

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2

Citation Types

0
0
0
2

Year Published

2021
2021
2022
2022

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(2 citation statements)
references
References 3 publications
0
0
0
2
Order By: Relevance
“…Такие функции могут вычисляться либо с помощью частично определѐнных функций внутренних полюсов, зависящих от входов схемы (область определения таких функций -множество тестовых наборов для одиночной константной неисправности в соответствующем полюсе) [1,2], либо без использования таких функций. Второй способ более предпочтителен, т.к.…”
Section: Introductionunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Такие функции могут вычисляться либо с помощью частично определѐнных функций внутренних полюсов, зависящих от входов схемы (область определения таких функций -множество тестовых наборов для одиночной константной неисправности в соответствующем полюсе) [1,2], либо без использования таких функций. Второй способ более предпочтителен, т.к.…”
Section: Introductionunclassified
“…Единицей сетевой информации является web-страница. В любой момент времени пользователь просматривает в браузере какую-либо одну страницу и, переходя от одной страницы к другой, получает очередную «порцию» информации [1]. Современные web-страницы редко надолго остаются неизменными.…”
Section: Introductionunclassified