1994
DOI: 10.1109/20.334152
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Measurement of magnetostriction in self-biased shielded magnetoresistive heads

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“…• Técnicas basadas en deformaciones de substratos Si se genera mecánicamente una pequeña curvatura del substrato dm-ante la deposición del material magnetostrictivo o en el momento de realizar la medida, las deformaciones generan en el material magnetostrictivo un campo de anisotropía local Hk que es medido usando dispositivos ópticos basados en el efecto Kerr [3,68] o con la medida de la magnetoresistencia [38,109]. Esta técnica tiene la ventaja de que permite hacer un mapa de la magnetostricción de la superficie de lá pelícida depositada.…”
Section: Microscopios De Efecto Túnelunclassified
“…• Técnicas basadas en deformaciones de substratos Si se genera mecánicamente una pequeña curvatura del substrato dm-ante la deposición del material magnetostrictivo o en el momento de realizar la medida, las deformaciones generan en el material magnetostrictivo un campo de anisotropía local Hk que es medido usando dispositivos ópticos basados en el efecto Kerr [3,68] o con la medida de la magnetoresistencia [38,109]. Esta técnica tiene la ventaja de que permite hacer un mapa de la magnetostricción de la superficie de lá pelícida depositada.…”
Section: Microscopios De Efecto Túnelunclassified