“…Иными словами, необходимы схемы микроскопов с интегрирующей сферой с лазерными источниками, причём -расположение лазеров должно варьироваться для обеспечения ближнепольных и дальнепольных работ, в частности, реализуемых с использованием удлиненного тубуса. Отсутствие атмосферных / газодинамических помех на тракте лазерного пучка в последнем случае можно обеспечить путем вакуумирования колонны (тубуса, в котором распространяется пучок), а измерение, учитывающее их, для конкретной атмосферы (аналогично электронной микроскопии типа ESEM [5]), возможно реализовать путем напуска соответствующего газа в случае полной / «необходимой и достаточной» степени герметизации колонны. Общеизвестные стандарты вакуумных уплотнений, доступные для пользователя и конструктора инструментов такого типа, способны последовательно обеспечить как напуск, так и откачку / вакуумирование в подобных системах [6] (независимо от класса задач лазерно-микроскопических измерений или безлинзовой микрофотографии в них).…”