Microlensing on extended structures having a spherically-symmetric mass distribution

Abstract

МІКРОЛІНЗУВАННЯ ПРОТЯЖНИМИ СТРУКТУРАМИ З СФЕРИЧНО-СИМЕТРИЧНИМ РОЗПОДІЛОМ МАСИРозглянуто мікролінзування точкового віддаленого джерела на одиночних протяжних структурах, що можуть представляти згустки темної матерії, з сферично-симетричним розподілом маси без особливості у центрі. Прове-дено аналітичний аналіз лінзового відображення, визначено області параметрів, що відповідають різній кількості зображень точкового джерела. Розраховано залежності коефіцієнту підсилення від часу (криві підсилення), що вини-кають при відносному русі джерела та мікролінзи. Показано, що для широкого діапазону параметрів криві підсилення протяжної мікролінзи важко відрізнити від аналогічних кривих в стандартній моделі точкової мікролінзи на сучасному рівні фотометричної точності.