Abstract:Στις σύγχρονες τεχνολογίες που χρησιμοποιούνται για τον σχεδιασμό ολοκληρωμένων κυκλωμάτων, οι διαταραχές που χαρακτηρίζονται ως Soft Errors που προκαλούνται από εξωτερικούς παράγοντες, όπως η ακτινοβολία και τα σωματίδια α αποτελούν σημαντική απειλή για την αξιοπιστία των κυκλωμάτων. Μέχρι στιγμής, μια πληθώρα μελετών επικεντρώθηκε στην ανάλυση της επίδρασης των Soft Errors σε στοιχεία μνήμης όπως τα flip-flops, τις DRAMs και τις SRAMs. Από την άλλη πλευρά, η προστασία του συνδυαστικού μέρους των ολοκληρωμένω… Show more
Set email alert for when this publication receives citations?
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.