Зимняков Дмитрий Александрович, доктор физико-математических наук, профессор, заве-дующий кафедрой физики, Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю. А.; главный научный сотрудник лаборатории проблем лазерной диагностики технических и живых систем, Институт проблем точной механики и управления РАН (Са-ратов), zimnykov@mail.ru Алонова Марина Васильевна, ассистент кафедры физики, Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю. А.; инженер-исследователь лаборатории про-блем лазерной диагностики технических и живых систем, Институт проблем точной меха-ники и управления РАН (Саратов), alonova_marina@mail.ru Ювченко Сергей Алексеевич, кандидат физико-математических наук, доцент кафедры фи-зики, Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю. А.; науч-ный сотрудник лаборатории проблем лазерной диагностики технических и живых систем, Институт проблем точной механики и управления РАН (Саратов), yuv-sergej@yandex.ru Ушакова Екатерина Владимировна, магистрант кафедры физики, Саратовский государ-ственный технический университет имени Гагарина Ю. А., katushakova96@yandex.ru Разработана математическая модель, описывающая статистические свойства простран-ственных флуктуаций многократно рассеянного узкополосного излучения, получаемого в результате спектральной селекции флуоресценции случайно-неоднородной среды, накачиваемой непрерывным лазерным излучением. Модель предназначена для коли-чественной интерпретации экспериментальных данных, получаемых с использованием безопорного низкокогерентного рефлектометрического зондирования случайно-неодно-родных сред. В данной модели в качестве зондирующего излучения используется излу-чение флуоресценции среды при её возбуждении непрерывным лазерным излучением Показано существование универсальной взаимосвязи между универсальными параме-трами, вводимыми в модели и характеризующими перенос зондирующего излучения в среде в условиях спектральной селекции. Представленные экспериментальные данные подтверждают адекватность разработанной модели. Ключевые слова: низкокогерентная рефлектометрия, стохастическая интерферен-ция, математическое моделирование переноса излучения.