A theoretical model is given from which the equivalent circuit, is derived for a p-n heterojunction taking into account the relaxation of interface states of both the donor and acceptor type. Experimental data are given describing the behaviour of the incremental capacitance and conductance of n-Si-p-Ge diodes. A value is derived for the conduction band discontinuity of (0.34 0.04) eV decreasing with temperature by (3.6 f 2.0) x x loe4 eV deg-1 over the range 18 to 160 "C. The relaxation effects are described by the presence of 2.5 x 10l2 donor-type interface states per emz having a mean activation energy of 0.075 eV with a relaxation time of 2.6 x lo-@ s. Es wird ein theoretisches Model1 angegeben, aus dem das Aquivalentschaltbild fur einen p-n-Heteroubergang abgeleitet wird, wobei die Relaxation von Zwischenflachenzustiinden vom Donator-und Akzeptortyp beriicksichtigt wird. Experimentelle Werte werden angegeben, die das Verhalten der zusiitzlichen Kapazitanz und Konduktanz von n-Si-p-Ge-Dioden beschreiben. Ein Wert fur die Leitungsbanddiskontinuitat von (0,34 f 0,04) eV, der mit der Temperatur ((3,6 & 2,O) x eV grad-l) im Bereich von 18 bis 160 "C abnimmt, wird abgeleitet. Die Relaxationseffekte werden durch die Anwesenheit von 2,5 X 10l2 Zwischenfllchenzustinden pro cm2 vom Donatortyp mit einer mittleren Aktivierungsenergie von 0,075 eV und einer Relaxationszeit von 2,6 x lo-* s beschrieben.