Abstract:AbstrakArtikel ini menunjukkan sebuah metode untuk memahami sistem pencitraan OBIV (optical beam induced voltage) yang biasanya menggunakan sistem laser scanning microscopy. Sistem pencitraan OBIV ini memanfaatkan sensor fotoresistor sebagai sampel uji yang sekaligus dapat digunakan untuk menganalisis homogenitas tanggapannya. Resolusi dari sistem pencitraan ini masih terlalu rendah yaitu sekitar 350µm disebabkan oleh besarnya diameter cahaya jatuh. Hasil pencitraan OBIV menginformasikan bahwa fotoresistor mem… Show more
Set email alert for when this publication receives citations?
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.