Phase-shifting lateral shearing interferometry using wedge-plate and interferometric grating

Abstract

A simple and robust method for introducing a phase-shifting test procedure in a wedge-plate shearing interferometer is proposed. The output of the wedge-plate lateral shearing interferometer (LSI) is superposed onto a sinusoidal grating, forming a moiré pattern. The in-plane translation of grating perpendicular to the grating lines is used for introducing a known amount of phase shifts in the interferometer. Direct measurement of phase using a four-step phase-shifting method is undertaken. The applicability of this devised phase-shifting wedge-plate LSI has been successfully tested for setting the collimation position of optical beams. Good accuracy and precision are achieved.

Accurate computer simulation phase-shifting digital interferometry for measurement of the optical properties of Zamzam water in the visible spectrum Nasser A. Moustafa1,2, Hasan Assaedi2, Thamer H. Albaqami2 1Physics Department, Faculty of Science, H

“…By employing different algorithms for extracting a phase map from several highly intense fringe patterns [1][2][3][4], PSI has been implemented using almost all kinds of interferometric imaging systems. For all algorithms, a discrete or continuous temporal phase shift is presented.…”

Interferômetro holográfico para medidas de vibração e deformação utilizando um cristal fotorrefrativo como sensor

“…Em aplicações que usam interferometria holográfica, os parâmetros de interesse podem ser extraídos de medições de diferença de fase entre os feixes objeto e referência. Para conseguir isto, é requerida técnicas de quantificação de fases, onde a mais conhecida e aplicada amplamente é a técnica do deslocamento de fase temporal [47,48,49,50,51,4], que geralmente é implementada pela captura de consecutivos interferogramas com um deslocamento de fase específico e bem calibrado entre eles. Do ponto de vista experimental, os passos de fase são feitos movendo um espelho montado em um transdutor piezelétrico colocado geralmente no feixe de referência.…”