The energy shifts of light reflectance extrema in the region of exciton resonances are studied taking into account the transitional layers, spatial dispersion (SD), and damping. The values and directions of the shifts of the extrema are determined depending on the round-trip phase delay in the transitional layer. It is found that in the phase interval nn 5 0 < nn + n/4 ( n = 0, 1, . . .) the long-wave shift of the maximum is dominant while in the interval nn + n/4 < 0 5 nn + n/2 mainly a short-wave shift of the minimum occurs. The comparative roles of SD and damping are discussed. The equivalence of the mechanisms of SD and of damping effects on the frequency shift is established; the first one playing a more important role. Theoretical results agree with the available experimental data. Corresponding estimates for CdS, GaAs, and LiH crystals are made Die Abhangigkeit der Energieverschiebung der Lichtreflexion im Spektralbereich der Exzitonresonanzen unter Berucksichtigung der Ubergangsschichten, der Dampfung und raumlicher Dispersion wird untersucht. In Abhangigkeit von dem Runduberlauf der Phasenfortpflanzung wird die GroDe und Verschiebungsrichtung der Reflexionsextrema bestimmt. Es wird eine dominierende Maximumverschiebung zur langwelligen Seite des Spektrums bei einer Phasenverschiebung im Bereich nn 5 0 < nn + n/4 ( n = 0, 1, ...) beobachtet und eine Minimumverschiebung im Bereich nn + n/4 < B 2 nn + n/2 zur kurzwelligen Seite des .Spektrums. Die korrelative Rolle der raumlichen Dispersion und Dampfung wird besprochen. Eine Aquivalenz der Mechanismen von Dampfung und raumlicher Dispersion bezuglich der Frequenzverschiebungen wird gefunden, wobei die Dampfung eine grol3ere Rolle spielt. Die theoretischen Resultate stimmen im wesentlichen mit den experimentellen Daten uberein. Entsprechende Berechnungen werden fur CdS, GaAs und LiH Kristalle durchgefuhrt.