Pore Wetting and Its Effect on Breakthrough Pressure in Water-Wet and Oil-Wet Pores

Abstract

Abstract-Pore wetting plays an important role on enhanced oil recovery because of its effects on fluid saturation, flow behavior and displacement breakthrough pressure of reservoir fluids in porous medium. This paper aims towards measuring contact angles of alcohol aqueous solutions and breakthrough pressures required for air displacing alcohol aqueous solutions in a single micro-size water-wet pore and oil-wet pore. The liquids used are methanol, ethanol, 1-propanol aqueous solutions which could represent the fundamental components of surfactant solutions used in surfactant flooding process. The pores used are silica pores and PMMA pores, which simulate water-wet pores and oil-wet pores in the oil reservoirs. Our results indicate that the contact angle of alcohol aqueous solutions in a silica pore and PMMA pore decreases when the concentration of alcohol increases before reaching CMC. The contact angle decreases more dramatically with the alcohol concentration in an oil-wet pore than in a water-wet pore. The breakthrough pressure increases linearly with the surface tension in the water-wet pore. However, in the oil-wet pore, the breakthrough pressure stops increasing with surface tension when the surface tension is larger than around 35 mN/m. Index Terms-Enhanced oil recovery, displacement, multiphase flow, pore wetting.

Métodos de medición de espesores de películas delgadas basadas en óxidos semiconductores

“…Estaúltima es una técnicaóptica que consiste en medir el cambio en el eje de polarización de la luz incidente para determinar parámetros comoíndices de refracción y de extinción, y a partir deéstos obtener un valor muy aproximado del espesor de la película, para determinar el valor de las constantesópticas en un amplio rango de longitudes de onda, es necesario usar un elipsómetro espectral, el cual permite variar la longitud de onda y elángulo del haz incidente. Otra técnica indirecta es emplear espectrofotometría UV-Vis para determinar la cantidad de luz que absorbe y atraviesa la película, y con estos parámetros determinar de una manera muy precisa el espesor de las películas delgadas [15]. Para la medida de espesor de películas delgadas, en las que el espesor es menor a 150 nm, se usa la técnica de reflectometría de rayos X [16,17], la cual se usa para medir densidad, espesor, y rugosidad de películas delgadas de una o varias capas.…”