Propuesta de test funcional para filtros pasabanda de capacidades conmutadas embebidos en sistemas en chip reconfigurables

Abstract

Este trabajo presenta una propuesta de test funcional para filtros de capacidades conmutadas pasabanda implementados sobre hardware configurable analógico de sistemas en chip de señales mixtas, basado en análisis de respuesta transitorio. El esquema propuesto incorpora la generación de estímulos dentro del mismo chip bajo test, reduciendo el instrumental requerido. La validación del esquema de test se realizó mediante simulación del entorno completo de prueba. Los resultados obtenidos son alentadores para la aplicación de la estrategia, habiéndose encontrado mínimas diferencias entre las especificaciones funcionales obtenidas por la estrategia y los valores de diseño