“…Um dos mais importantes resultados, obtidos por estes estudos, mostrou que a presença de oxigênio, em concentrações elevadas (10 17 cm -3 ), na estrutura dos detectores de Si, aumenta a tolerância aos danos de radiação responsáveis pelas alterações da tensão de depleção total destes dispositivos [18][19][20] [11,12,[19][20][21][22][23].…”