Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen an Hochpolymeren

Abstract

Entsprechend den zahlreichen Erscheinungsformen von Hochpolymeren sind die Anwendungsmoglichkeiten des Kasterelcktronenmikroskops vielfaltig. Die groRe Scharfentiefe des KEM erlaubt die Abbildung differenzierter und rauher Bruch-bzw. Oberflachen. Es wird uber Anwendungen aus den Bereichen Textilmikroskopie, Bewitterung pigmentierter Anstrichfilme, Chemikalienangriff an Kunststoffen, Bruch. untersuchungen an Thermoplasten, Messungen an Schaumstoffen und Knochenzementen berichtet. Weiterhin bietet das KEM die Moglichkeit zur Durchfiihrung dynamischer Experimente sowie zur Ausnutzung der verschiedenen Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Materie zur Materialdifferenzierung (z. B. Kathodolumineszenz) und zur Mikroanalyse (durch Kopplung mit einem Rontgenspektrometer). Die Rontgenmikrographie ermoglicht die reprasentaive Erfassung der Verteilung von Pigment-und Fiillstoffagglomeraten, Glasfasern, Poren etc. in relativ g r o k n Probenvolumina. 154 K. Holm und B. Reinfandt Z. Werkstofftech. 9, 153-164 (1978) Transmissions-100 1000 rm Abb. 2. spannung abgebildet.Fig. 2. beam voltage. Pigmentierter Lack; a) rnit 5 kV, b) mit 20 kV Primarstrahl-Abb. 1. Anwendungsbereiche der Mikroskope.