2006
DOI: 10.1143/jjap.45.1922
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Scanning Capacitance Microscopy Evaluation of Lead Zirconate Titanate Film Formed by Aerosol Deposition Method

Abstract: It has been shown that phase-locked cavities have a quantised transfer function (Jennison 1979) and that they account for the property of inertia (Jennison and Drinkwater 1977). The analysis in this paper shows that only half of the rest energy of a phase-locked cavity contributes actively to the inertial force. The moment of inertia of such a system about its own axis is only half that of a classical rigid body of the same total rest mass distributed in the same region of space. If a phase-locked cavity is us… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
1
0
1

Year Published

2018
2018
2020
2020

Publication Types

Select...
5

Relationship

0
5

Authors

Journals

citations
Cited by 5 publications
(2 citation statements)
references
References 10 publications
0
1
0
1
Order By: Relevance
“…С помощью емкостных измерений оценивают вариации толщины очень тонких оксидных пленок с высокой диэлектрической проницаемостью для использования последних в качестве подзатворного диэлектрика в МОП-структурах [8][9][10][11][12]. Отдельными группами ученых в последнее время ведутся работы по определению величин диэлектрической проницаемости различных нанообъектов, в том числе диэлектрических пленок, наночастиц оксидов Si и Al, биологических мембран и вирусов [13][14][15][16][17][18][19]. В основу развиваемого метода положено одновременное измерение расстояний и емкости в системе зонд−образец с аттофарадным разрешением с помощью емкостного датчика, построение аналитической модели системы и сопоставление экспериментальных данных с результатами численного моделирования.…”
unclassified
“…С помощью емкостных измерений оценивают вариации толщины очень тонких оксидных пленок с высокой диэлектрической проницаемостью для использования последних в качестве подзатворного диэлектрика в МОП-структурах [8][9][10][11][12]. Отдельными группами ученых в последнее время ведутся работы по определению величин диэлектрической проницаемости различных нанообъектов, в том числе диэлектрических пленок, наночастиц оксидов Si и Al, биологических мембран и вирусов [13][14][15][16][17][18][19]. В основу развиваемого метода положено одновременное измерение расстояний и емкости в системе зонд−образец с аттофарадным разрешением с помощью емкостного датчика, построение аналитической модели системы и сопоставление экспериментальных данных с результатами численного моделирования.…”
unclassified
“…It is mainly used for high-precision analysis of the dopant concentration in semiconductor structures, for the quantitative evaluation of the dielectric films thickness or for the dielectric constant [1]. To the ferroelectrics so far this method has been applied little, as one can see from the limited number of research papers [2,3].…”
mentioning
confidence: 99%