A 6-shell model is presented of deep impurities in semiconductors as a simple but effective extension of the well-known &function model of Lucovsky, in order to address the problem of fairly sharp photo-ionization spectra. Whereas Lucovsky treated only the photo-ionization of electrons from s-like impurity states to the conduction band (forbidden transitions), this paper considers also the photo-ionization of holes t o the valence band (allowed transitions). The new %-shell model gives an improved fit to experimental photo-ionization data. It can be used to determine the range of the deep impurity potential as well as the binding energy, and can help to determine the nature of the photoionized charge (electron/hole).Ein 6-Schalenmodell tiefer Storstellen in Halbleitern zur Behandlung des Problems der ziemlich spitzen Photoionisationsspektren wird als einfache aber effektive Erweiterung des gut bekannten 8-Funktionsmodell von Lukovsky angegeben. Wiihrend Lukovsky nur die Photoionisation von Elektronen aus s-Storstellenzustanden ins Leitungsband (verbotene ifbergiinge) behandelt, wird hierbei auch die Photoionisation von Lochern in das Valenzband (erlaubte ifber-gLnge) beriicksichtigt. Das neue 6-Schalenmodell ergibt eine verbesserte Anpassung an experimen telle Photoionisationsdaten. Es 1aBt sich zur Bestimmung des Bereichs des Potentials der tiefen Storstelle sowie der Bindungsenergie benutzen und kann helfen, die Art der photoionisierten Ladung (Elektron/Loch) zu bestimmen.