Pассмотрены экспериментальные и теоретические результаты исследования оптического поглощения легированных структур с квантовыми точками Ge/Si в дальнем инфракрасном диапазоне, соответствующем энергиям переходов дырок из основного в нижнее возбужденное состояние размерного квантования. В рамках адиабатического приближения построена аналитическая теория размерного квантования дырок в линзообразной квантовой точке с учетом парного кулоновского взаимодействия. Показано, что наличие взаимодействия не оказывает влияния на частоты нижних межуровневых резонансов, что является отражением реализации обобщенной теоремы Кона благодаря специфической геометрии квантовой точки. Экспериментальные и теоретические значения энергии переходов находятся в хорошем согласии.
ВведениеИнтерес к структурам с квантовыми точками (КТ) Ge/Si обусловлен в первую очередь, их совместимостью с существующей кремниевой технологией. В ряде ра-бот [1] показано, что КТ Ge/Si обладают как привлека-тельными люминесцентными свойствами, так и фотопро-водимостью в области энергий кванта излучения, мень-шей ширины запрещенной зоны кремния. Это открывает широкие возможности по использованию таких струк-тур в качестве материалов активной элементной базы для оптических межсоединений в микроэлектронике [2]. В недавней работе [3] сообщается о наблюдении при комнатной температуре стимулированного излучения вблизи 1.3 мкм из частично аморфных германиевых КТ в кремниевой матрице внутри микродискового резонатора при оптической накачке.Оптические свойства КТ Ge/Si в средней инфракрас-ной (ИК) области также представляют существенный интерес в связи c потенциальными возможностями ис-пользования их для фотоприемников на этот диапа-зон [4,5]. В этом спектральном диапазоне привлекают внимание внутризонные оптические явления, связанные с переходами дырок между размерно-квантованными состояниями валентной зоны КТ, на которую приходится большая часть разности в ширине запрещенной зоны германия и кремния. При этом интерфейс квантовой точ-ки формирует сильное квантовое ограничение для дырок внутри КТ, тогда как электроны могут быть только слабо локализованы на кремниевой части интерфейса за счет изгибов зоны проводимости, вызванных наличием остаточных упругих напряжений [6].Несмотря на большое количество исследований кван-товых точек на основе этой системы материалов, изу-чению оптических свойств КТ Ge/Si в дальней ИК спектральной области уделялось мало внимания. При этом в данной спектральной области находятся энергии оптических переходов дырок из основного состояния в нижние возбужденные состояния КТ, изучение ко-торых позволяет исследовать некоторые особенности, связанные с распределением дырок по состояниям КТ с неоднородным уширением, что может быть важным при анализе работы оптоэлектронных приборов.В данной работе мы приводим результаты эксперимен-тального исследования спектров оптического поглоще-ния легированных структур с квантовыми точками Ge/Si в дальней ИК области, а также аналитическую теорию межуровневого поглощения света на нижнем внутризон-ном резонансе с уче...