2016
DOI: 10.1364/jot.83.000143
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Simulation analysis of atomic-force images of nanocrystal structures

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
1
0
1

Year Published

2017
2017
2019
2019

Publication Types

Select...
5

Relationship

0
5

Authors

Journals

citations
Cited by 5 publications
(2 citation statements)
references
References 10 publications
0
1
0
1
Order By: Relevance
“…Сформированные гибридные структуры представляют собой 3 слоя КТ и 3 слоя наночастиц TiO 2 . Исследование слоев с помощью атомно-силовой микроскопии показало, что толщина каждого слоя соответствует толщине 1−2 монослоев КТ и наночастиц TiO 2 [17].…”
Section: материалы и методыunclassified
“…Сформированные гибридные структуры представляют собой 3 слоя КТ и 3 слоя наночастиц TiO 2 . Исследование слоев с помощью атомно-силовой микроскопии показало, что толщина каждого слоя соответствует толщине 1−2 монослоев КТ и наночастиц TiO 2 [17].…”
Section: материалы и методыunclassified
“…Investigation of samples with atomic force microscopy has confirmed that each QDs or TiO 2 layer consists of one to two monolayers of components (section S5). 49 Figure 1 shows a schematic depiction of formed structures.…”
Section: ■ Introductionmentioning
confidence: 99%