2016
DOI: 10.1116/1.4965727
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Stabilizing effect of diamond thin film on nanostructured silicon carbide field emission array

Abstract: Silicon carbide field emission arrays (FEA) are at the forefront of development as new promising electron sources for vacuum microelectronic devices. The authors present a new process for the fabrication of array of nanoscale tips with reduced heterogeneity of their heights. The characterization results show that at strong electric fields the heterogeneity is a key factor causing current instability. Diamond is recognized as the best material to obtain field emission, but fabrication of tip array with a reason… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
1
0
1

Year Published

2017
2017
2021
2021

Publication Types

Select...
3
2
1

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 10 publications
(2 citation statements)
references
References 24 publications
0
1
0
1
Order By: Relevance
“…В статье [5] представлены результаты формирования матрицы наноразмерных остриев с уменьшенным разбросом их высот. Результаты измерений показывают, что при высокой напряженности электрического поля неоднородность высот остриев является ключевым фактором нестабильности тока.…”
Section: перспективные разработки спбгэту "лэти" автоэмиссионные катоunclassified
See 1 more Smart Citation
“…В статье [5] представлены результаты формирования матрицы наноразмерных остриев с уменьшенным разбросом их высот. Результаты измерений показывают, что при высокой напряженности электрического поля неоднородность высот остриев является ключевым фактором нестабильности тока.…”
Section: перспективные разработки спбгэту "лэти" автоэмиссионные катоunclassified
“…The paper [5] presents the results of the formation of a matrix of nanoscale points with a reduced scatter of their heights. The results of the measurements show that, at high electric field strengths the inhomogeneity of the tip heights is a key factor of current instability.…”
Section: Perspective Developments Of Etu "Leti" Autoemission Cathodesmentioning
confidence: 99%