2018
DOI: 10.1016/j.matchar.2018.09.022
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Strain evolution in Zr-2.5 wt% Nb observed with synchrotron X-ray diffraction

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1
1

Citation Types

0
1
0
2

Year Published

2020
2020
2023
2023

Publication Types

Select...
6

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 8 publications
(3 citation statements)
references
References 33 publications
0
1
0
2
Order By: Relevance
“…Первая производная кривой теплового расширения решетки, деленная на исходную величину межплоскостного расстояния соответствующей плоскости отражения, определяется как коэффициент теплового расширения решетки. Полуширина рефлексов содержит инструментальное уширение, объемное изменение размеров образца и уширение образца, вызванное размером зерна и микронапряжениями [15,16]. В этом эксперименте инструментальное уширение и уширение в результате измельчения зерна принимаются как не изменяемые с изменением температуры, поэтому все изменения FWHM объясняются эволюцией напряжений.…”
Section: методика исследованийunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Первая производная кривой теплового расширения решетки, деленная на исходную величину межплоскостного расстояния соответствующей плоскости отражения, определяется как коэффициент теплового расширения решетки. Полуширина рефлексов содержит инструментальное уширение, объемное изменение размеров образца и уширение образца, вызванное размером зерна и микронапряжениями [15,16]. В этом эксперименте инструментальное уширение и уширение в результате измельчения зерна принимаются как не изменяемые с изменением температуры, поэтому все изменения FWHM объясняются эволюцией напряжений.…”
Section: методика исследованийunclassified
“…В связи с этим для обнаружения процессов несоответствия материалов по теплофизическим параметрам целесообразно использовать метод in situ синхротронной рентгеновской дифракции [14]. Величина полной ширины на полувысоте (FWHM) рентгеновских рефлексов может отражать эволюцию внутреннего напряжения при термической нагрузке [15,16]. Например, из-за теплового расширения происходят изменения межплоскостного расстояния, связанные с определенной кристаллографической ориентацией, в то время как расширение дифракционного пика происходит, если дефекты решетки присутствуют в достаточно большом количестве в пределах рассеивающего объема, а также при возникновении микронапряжений.…”
Section: Introductionunclassified
“…Last but not least, Shiman et al investigated the strain state of a hybridized zirconium alloy during temperature fluctuation. The existence of brittle hybrids can profoundly affect the mechanical behavior of this material.…”
Section: Diffractionmentioning
confidence: 99%