Structural and magnetic properties of evaporated Fe thin films on Si(111), Si(100) and glass substrates

Ghebouli, B.; Chérif, S. M.; Layadi, A.; Helifa, B.; Boudissa, M.

doi:10.1016/j.jmmm.2006.09.033

Cited by 25 publications

(8 citation statements)

References 25 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Это было связано с несоответствием интенсивности эксперимен-тально наблюдаемого кольца (222) с его теоретическим значением для (110)-текстуры. Эта текстура также на-блюдалась методом XRD как при термическом [1,11], так и магнетронном [4] распылении Fe на стекле и под-ложках Si с естественным слоем SiO 2 . В спектрах XRD пик, соответствующий отражению (110), отчетливо на-блюдался в диапазоне толщин Fe от 45 до 431 nm.…”

Section: результаты и их обсуждениеunclassified

“…Исследование поликристаллических пленок Fe показывает, что их магнитные свойства зависят как от типа подложки, так и условий роста, зависящих от метода распыле-ния Fe. В работе [1] показано, что размер зерен в пленке Fe, выращенной на подложке Si, больше, чем в пленке Fe на стекле. Анализ характера намагничивания пленок, выращенных на разных подложках [2], показал, что с уменьшением размера зерен Fe коэрцитивная сила увеличивается.…”

Section: Introductionunclassified

“…Структурный анализ показывает, что в отличие от пленок с (110)-текстурой, выращенных при комнатной температуре [1,4], высокотемпературные пленки Fe име-ют (100) текстуру [3,5]. Ось текстуры в обоих случаях располагается вдоль нормали к поверхности.…”

unclassified

See 2 more Smart Citations

Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO-=SUB=-2-=/SUB=-/Si(001)

Балашев¹,

Коробцов²

2018

Журнал Технической Физики

View full text Add to dashboard Cite

Методом дифракции быстрых электронов (ДБЭ) исследована структура поликристаллических пленок Fe, выращенных на окисленной поверхности Si (001) • C) приводит к увеличению размера зерен. Структурный анализ показывает, что в отличие от пленок с (110)-текстурой, выращенных при комнатной температуре [1,4], высокотемпературные пленки Fe име-ют (100) текстуру [3,5]. Ось текстуры в обоих случаях располагается вдоль нормали к поверхности. В большин-стве случаев исследование магнитных и структурных свойств проводились для довольно толстых пленок Fe, толщиной в несколько десятков нанометров. Для анализа структуры пленок Fe, как правило, использовался метод рентгеновской дифракции (XRD). Согласно распростра-ненной геометрии измерения (Bragg−Brentano) для это-го метода, вектор рассеяния располагается нормально к поверхности. В этом случае пики на рентгеновском спек-тре возникают при пересечении сферой Эвальда только тех узлов обратной решетки, которые располагаются на нормали к поверхности. В случае идеальной текстуры, когда, например, ось [110] (или [100]) кубической ре-шетки зерен Fe располагается преимущественно вдоль нормали к поверхности, наиболее интенсивным на рент-геновском спектре является пик (110) (или 200). С дру-гой стороны, измерения интенсивности в зависимости от полярного угла гониометра (ϕ) при фиксированном брэгговском угле ( hkl ) для дифракционного пика (hkl) позволило показать, что (111) текстура является доми-нирующей в тонких пленках железа [6].Таким образом, представляет интерес исследование начальной стадии роста, с точки зрения возможности определения оптимальных условий синтеза пленок Fe с теми или иными магнитными и электрическими свой-ствами. В работах [5,7,8] показано, что метод ДБЭ на отражение является мощным инструментом для анализа текстуры пленки, позволяющим одновременно регистри-ровать на картине дифракции не только рефлексы, расположенные на нормали к поверхности, но и брэг-говские отражения от других систем плоскостей. Это достигается за счет малого угла падения электронного пучка к поверхности и дифракции электронов на просвет через зерна и шероховатость поверхности нанометровых размеров. Целью настоящей работы было исследование структуры ультратонких пленок железа толщиной в несколько нанометров с использованием метода ДБЭ на отражение. Экспериментальная частьЭксперименты проводились на сверхвысоковакуумной установке " Катунь", оснащенной системами дифракции 75

show abstract

Section: результаты и их обсуждениеunclassified

Section: Introductionunclassified

unclassified

See 1 more Smart Citation

Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO-=SUB=-2-=/SUB=-/Si(001)

Балашев¹,

Коробцов²

2018

Журнал Технической Физики

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…[1,2] Fe films have been intensively investigated; several methods have been used to prepare Fe films. [3][4][5][6][7][8][9][10][11][12][13] Among these techniques, the electrodeposition is becoming more and more attractive because it is a relatively simple and low-cost method for the fabrication of magnetic thin films [14] ; it is one of the most promising technologies in industrial level. [2,15] Electrodeposited magnetic thin films of the iron group metals (Fe, Co, and Ni) are being studied because of potential applications in computer read/write heads.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Structural and Magnetic Properties of Fe Films Electrodeposited on Al Substrates

Mebarki

Layadi

Khelladi

et al. 2016

Metall Mater Trans A

Self Cite

View full text Add to dashboard Cite

Series of Fe films have been prepared by electrodeposition in a solution of iron chloride onto Al substrate. Different deposition times were used in the elaboration process. The texture, the strain, and the grain size values were derived from X-ray diffraction experiments. Scanning electron microscopy (SEM) has been used to get the surface and the cross section images. Vibrating Sample magnetometer has been used to obtain the hysteresis curves; the external magnetic field was applied in different directions in the film plane, and also perpendicular to the film. Hysteresis curves have been obtained at low temperatures [120 K (À153°C) to room temperature]. The h100i texture, small strain, and grain size ranging from 58 to 113 nm are found for these Fe/Al films. All samples show an in-plane magnetic anisotropy, with no preferred orientation within the film plane. Depending on the film thickness range, different mechanisms have been found to be responsible for the coercive field H C behavior. These magnetic properties are correlated with the structural ones and with the SEM observations.

show abstract

“…Observed magnetic domain structure is one of the methods to studythe mechanisms of magnetic reversal in magnetic thin films. Previous researcher [10] have studied and observed magnetic domains of some ferromagnetic alloys in the form of thin films. Observations and analyses of magnetic domain structure for thin films have been studied by variety of method [11,12].…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Transmission Electron Microscopy Study of Magnetic Domain of Cobalt-Samarium Thin Films Fabricated Using DC Magnetron Sputtering Technique

Amiruddin¹

2016

KEG

View full text Add to dashboard Cite

Alloys of cobalt samarium (Co-Sm) in the form of thin films were fabricated using dc magnetron sputtering technique. The films were fabricated as a function of samarium concentration ranging from 0 to 28 at.% in order to investigate the relationship between microstructure, coercivity and magnetic domain structure. Magnetic domain structures in the films have been studied by Lorentz microscopy using transmission electron microscopy (TEM). In this technique, the TEM was operated in the defocused mode. The results show that the magnetic image of Co 90 Sm 10 film has fairly coarse structure with magnetization ripple and the domains ranging over 200-300 nm. The domain size is much larger than the grain size of Co 90 Sm 10 film. The "multiparticle" or interaction domains suggested that there is strong exchange coupling between the magnetization of the neighbouring grains inside each of them. The hysteresis loop for this film shows a small coercivity with high magnetization value and high loop squareness, indicating a greater proportion of magnetic material.

show abstract

Structural and magnetic properties of evaporated Fe thin films on Si(111), Si(100) and glass substrates

Cited by 25 publications

References 25 publications

Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO-=SUB=-2-=/SUB=-/Si(001)

Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO-=SUB=-2-=/SUB=-/Si(001)

Structural and Magnetic Properties of Fe Films Electrodeposited on Al Substrates

Transmission Electron Microscopy Study of Magnetic Domain of Cobalt-Samarium Thin Films Fabricated Using DC Magnetron Sputtering Technique

Contact Info

Product

Resources

About