1991
DOI: 10.1016/0921-4534(91)90413-s
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Structure and composition of grain boundary dislocation cores and stacking faults in MOCVD-grown YBa2Cu3O7−x thin films

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1
1

Citation Types

1
38
0
9

Year Published

1992
1992
2012
2012

Publication Types

Select...
6
3

Relationship

0
9

Authors

Journals

citations
Cited by 83 publications
(48 citation statements)
references
References 19 publications
1
38
0
9
Order By: Relevance
“…Электронно-микроскопическое изображение [33,34] с высоким разрешением трех краевых дислокаций (указаны стрелками), которые были наблюдены в малоугловой наклонной междоменной границе (угол разориен-тировки в ab-плоскости   3,5). Дислокации имеют плотные, но уширенные ядра, подробнее показанные на Рис.…”
Section: 2unclassified
“…Электронно-микроскопическое изображение [33,34] с высоким разрешением трех краевых дислокаций (указаны стрелками), которые были наблюдены в малоугловой наклонной междоменной границе (угол разориен-тировки в ab-плоскости   3,5). Дислокации имеют плотные, но уширенные ядра, подробнее показанные на Рис.…”
Section: 2unclassified
“…4. These planar defects are most probably stacking faults parallel to the (100) plane or (010) plane, as observed in MOCVD-YBCO thin films [22]. It was concluded that relatively sharp lc (8) peaks at HI/ c (Fig.…”
Section: C-axis-correlated Pinning Centers In Ybco Films Deposited Bymentioning
confidence: 99%
“…4. These planar defects are most probably stacking faults parallel to the (100) plane or (010) plane, as observed in MOCVD-YBCO thin films [22]. It was concluded that relatively sharp J c ( ) peaks at H // c (Fig.…”
Section: C-axis-correlated Pinning Centers In Ybco Films Deposited Bymentioning
confidence: 99%