摘要: 通过等体积浸渍方法制备了添加CeO 2 助剂的用于C 2 H 4 /C 2 H 6 吸附分离的CuCl/活性炭(AC)吸附剂, 使用 氮气吸附-脱附曲线、X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、扫描电子显微镜(SEM)、能量分散X射线 光谱(EDX)等分析方法对吸附剂进行了表征. 结果表明, 吸附剂表面Cu(II)在氮气气氛焙烧过程中被部分还原 成Cu(I). 重点研究了Ce元素的添加对于吸附剂的C 2 H 4 /C 2 H 6 吸附分离性能的影响, 等温吸附曲线结果表明添加 了CeO 2 的吸附剂通过降低乙烷的吸附容量从而显著提高了吸附分离性能. XRD及XPS结果表明, 和未添加助 剂样品相比, 其表面晶体团簇较小, 分散性更好, Cu(II)还原程度更高. 添加CeO 2 的吸附剂样品5Ce50Cu (CeO 2 和CuCl 2 的质量分数(w)分别为5%和50%)获得了最好的吸附分离效果, 相对于未添加CeO 2 的样品50Cu, 其在660 kPa下的吸附选择性由4.2提升到8.7.