Study of the Weak Field Sensor on the Resonant Microstrip Structure with a Thin Ferromagnetic Film

Belyaev, B. A.; Boev, Nikita M.; Izotov, A. V.; Solovyev, P. N.; Tyurnev, V. V.

doi:10.1007/s11182-018-1544-x

Cited by 5 publications

(1 citation statement)

References 16 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Order By: Relevance

“…Dispersion of the magnetic anisotropy, magnetization saturation, and other magnetic characteristics reduce the magnetic susceptibility [7,8] and enhance the magnetic noise in a film. It was found that the magnetic noise caused by the spatial dispersion of the magnetic characteristics is the key factor that limits the sensitivity of the magnetic field sensors based on a thin magnetic film [9][10][11]. Usually, during deposition of thin magnetic films an external magnetic field is applied in the film plane.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Experimental study of the magnetic characteristics of nanocrystalline thin films: the role of edge effects

Belyaev¹,

Izotov²,

Skomorokhov³

et al. 2019

Mater. Res. Express

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Experimental study of the magnetic characteristics of nanocrystalline thin films: the role of edge effects

Belyaev¹,

Izotov²,

Skomorokhov³

et al. 2019

Mater. Res. Express

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

Study of Peculiarities of the Microwave Absorption Spectrum of Nanocrystalline Thin Magnetic Films

et al. 2019

View full text Add to dashboard Cite

На основе микромагнитной модели, учитывающей случайное распределение направлений одноосной магнитной анизотропии в кристаллитах нанокристаллической пленки, реализован эффективный метод расчета динамики намагниченности в СВЧ-полях. В определенной области размеров кристаллитов, когда энергия случайной магнитной анизотропии сравнима с обменной энергией, обнаружено значительное изменение поля ферромагнитного резонанса, уширение резонансной линии и возникновение асимметрии формы резонансной кривой. Резонансное поле с увеличением размеров кристаллитов сначала растет, затем быстро уменьшается до своего минимума, затем снова растет с выходом на насыщение. При этом крутизна левого склона расширяющейся резонансной кривой сначала уменьшается быстрее правого, нарушая симметрию ее формы, затем кривая вновь становится симметричной, а затем крутизна левого склона становится больше крутизны правого. Ключевые слова: микромагнитное моделирование, нанокристаллиты, случайная магнитная анизотропия, ферромагнитный резонанс, сверхвысокие частоты. * Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, проект № RFMEFI60417X0179.

show abstract

Magnetic Properties of Permalloy Thin Film Edges

et al. 2020

View full text Add to dashboard Cite

ОСОБЕННОСТИ ПОВЕДЕНИЯ МАГНИТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ВБЛИЗИ КРАЕВ ТОНКИХ ПЕРМАЛЛОЕВЫХ ПЛЕНОК *С помощью сканирующего спектрометра ферромагнитного резонанса (ФМР) изучены магнитные свойства нанокристаллических тонких пленок, изготовленных методом магнетронного распыления мишеней пермаллоя различного состава NixFe1-x (x=0.6-0.85). Проведен анализ особенностей поведения основных магнитных характеристик вблизи краев тонких пленок. Показано, что вблизи краев пленок не только значительно отклоняется величина поля одноосной магнитной анизотропии от среднего значения, но и резко уширяется линия ФМР, а также уменьшается эффективная намагниченность насыщения.Ключевые слова: тонкая магнитная пленка, ферромагнитный резонанс, краевые эффекты, магнитная анизотропия.

show abstract

Study of the Weak Field Sensor on the Resonant Microstrip Structure with a Thin Ferromagnetic Film

Cited by 5 publications

References 16 publications

Experimental study of the magnetic characteristics of nanocrystalline thin films: the role of edge effects

Experimental study of the magnetic characteristics of nanocrystalline thin films: the role of edge effects

Study of Peculiarities of the Microwave Absorption Spectrum of Nanocrystalline Thin Magnetic Films

Magnetic Properties of Permalloy Thin Film Edges

Contact Info

Product

Resources

About