Professor Herbert Jacobs zum 65. Geburtstag gewidmet Inhaltsu È bersicht. Die quaterna Èren Tantalsilicidchalkogenide Ta 15 Si 2 Q x Te 10±x (Q = S, Se) sind durch Umsetzung entsprechender Gemenge aus Dichalkogeniden, Silicium und Tantal bei 1770 K in zugeschweiûten Molybda Èntiegeln herstellbar. Ihre Struktur wurde aus den intensita È tssta Èrksten Reflexen von ca. 3 lm dicken faserigen Einkristallen bestimmt und u È ber Rietveld-Profilanpassungen von Ro È ntgen-Pulverdiffraktogrammen phasenreiner Pra È parate besta Ètigt. Ta 15 Si 2 S 3.5 Te 6.5 bzw. Ta 15 Si 2 Se 3.5 Te 6.5 kristallisiert monoklin in der Raumgruppe C2/m mit Z = 2, a = 2393.7(1) pm, b = 350.08(2) pm, c = 1601.2(1) pm, b = 124.700(4)°bzw. a = 2461.3(2) pm, b = 351.70(2) pm, c = 1601.7(1) pm, b = 124.363(5)°. Dreifach u È berdachte trigonal-prismatische Ta 9 Si-Cluster, die durch eingeschlossene Siliciumatome stabilisiert sind, ko È nnen als charakteristische Baugruppe der Struktur angesehen werden. Die Cluster sind zu Doppelstra È ngen kondensiert. Weitere Tantalatome verknu È pfen die Stra Ènge zu Schichten. Die verbleibenden Valenzen auf deren Oberfla Èchen werden von Chalkogenatomen abgesa Èttigt, die entsprechend einseitig von drei, vier oder fu È nf Ta-Atomen koordiniert sind. Der Zusammenhalt der ca. 1 nm dicken, von Chalkogenatomen bedeckten Lamellen wird durch einzelne verbru È ckende Ta±S±Ta-bzw. Ta±Se±Ta-Bindungen und Dispersionswechselwirkungen zwischen den Chalkogenatomen vermittelt. Die Silicidchalkogenide sind ma Èûig gute metallische Leiter, die trotz ausgepra Ègter Anisotropie der Struktur zwischen 10 und 310 K keine elektronischen Instabilita Èten erkennen lassen.Synthesis, Structure, and Properties of the Tantalum-rich Silicide Chalcogenides Ta 15 Si 2 Q x Te 10±x (Q = S, Se).Abstract. The quaternary tantalum silicide chalcogenides Ta 15 Si 2 Q x Te 10±x (Q = S, Se) are accessible from proper, compacted mixtures of the respective dichalcogenides, silicon and elemental tantalum at 1770 K in sealed molybdenum tubes. The structures were determined from the strongest Xray intensities of fibrous crystals with cross sections of about 3 lm and confirmed by fitting the profile of single phase Xray diffractograms. The phases Ta 15 Si 2 S 3.5 Te 6.5 and Ta 15 Si 2-Se 3.5 Te 6.5 crystallize in the monoclinic space group C2/m with two formula units per unit cell, a = 2393.7(1) pm, b = 350.08(2) pm, c = 1601.2(1) pm, b = 124.700(4)°, and a = 2461.3(2) pm, b = 351.70(2) pm, c = 1601.7(1) pm, b = 124.363(5)°, respectively. Tri-capped trigonal prismatic Ta 9 Si clusters stabilized by encapsulated Si atoms can be seen as the characteristic unit of the structure. The clusters are fused into twin columns which are connected by additional Ta atoms, thus forming corrugated layers. The remaining valences at the surfaces of the layered Ta±Si substructure are saturated by those of chalcogen atoms which are coordinated only from one side by three, four or five Ta atoms. Few bridging covalent Ta±S±Ta and Ta±Se±Ta bonds and, otherwise, dispersive interac...