2021 IEEE East-West Design &Amp; Test Symposium (EWDTS) 2021
DOI: 10.1109/ewdts52692.2021.9581037
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

The Structures of the Fault-Tolerant Automation and Computing Devices Based on the Boolean Complement

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2023
2023
2023
2023

Publication Types

Select...
1

Relationship

0
1

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(1 citation statement)
references
References 21 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Таким образом, сами рабочие сигналы становятся функциональным тестом еще более сложной системы [6]. Кроме того, в рамках рассматриваемой системы следует дополнительно контролировать программно-аппаратные средства технического зрения путем сравнения показаний датчиков технического зрения на борту и на стационаре [7].…”
Section: постановка задачиunclassified
“…Таким образом, сами рабочие сигналы становятся функциональным тестом еще более сложной системы [6]. Кроме того, в рамках рассматриваемой системы следует дополнительно контролировать программно-аппаратные средства технического зрения путем сравнения показаний датчиков технического зрения на борту и на стационаре [7].…”
Section: постановка задачиunclassified