The thickness dependence of the X-ray diffuse scattering intensity for crystals with microdefects at laue-case diffraction

Abstract

The theory of the dynamical X-ray diffuse scattering (DS) in single crystals with homogeneously distributed microdefects (point defect clusters, inclusions, new phase nuclei, dislocation loops, etc.) is developed. The thickness dependence of the DS intensity distribution in reciprocal lattice space is investigated by constructing both, iso-intensity contours and plane projections of threedimensional images. Possibilities to obtain a detailed information concerning various-kind microdefects characteristics by using distribution patterns of the DS intensity are discussed.

Integral Structure Perfection Diagnostics of Single Crystals Using Two Wavelengths of X-Ray Spectrum

“…In the case of a thick crystal the approximation of the R; value depends on the both integral parameters of structure perfection. The simple expression for the R; was obtained in [12] for the case of pt > 6 Therefore, varying the absorption level of the sample by choosing the wavelength of X-ray spectrum one can provide the needed level of absorption. In one case the sample may be considered as a thin one and then, formula (3) can be applied.…”

Unique Informativity of the Diffuse Dynamical Combined Diffractometry of Materials and Products of Nanotechnologies

“…Их теоретической основой является стати-стическая теория брэгговского и диффузного рассеяний излучений в кристаллах с дефектами: кинематическая (третье) и динамиче-ская (четвертое). Мировой приоритет в создании этих теорий, а также в проведении на их основе классификации дефектов в кри-сталлах по их влиянию на картину рассеяния принадлежит ИМФ НАН Украины (соответственно М. А. Кривоглазу [14] и В. Б. Мо-лодкину [15][16][17][18][19][20][21][22][23]). В настоящей работе проведен детальный сравни-тельный анализ чувствительности к дефектам и информативности диагностики на основе рассмотрений кинематической и динамиче-ской картин рассеяния.…”

“…При динамической дифракции, как впервые показано в работах [15][16][17][18][19][20][21][22][23], благодаря процессам многократности рассеяния и брэггов-ская, и диффузная составляющие интенсивности формируются су-щественно обеими частями потенциала. Это приводит к тому, что динамическое брэгговское рассеяние определяется не средним, как у Кривоглаза, а перенормированным за счёт перерассеяния на флуктуационной части эффективным периодическим потенциалом (комплексным и нелокальным), который подобен известному из электронной теории идеальных кристаллов когерентному потен-циалу или оптическому из теории ядра.…”

“…Как показано в [15][16][17][18][19][20][21][22][23], многократное перерассеяние диффузных волн на периодической части потенциала преобразует их в блохов-ские волновые поля, для которых авторами [15][16][17][18][19][20][21][22][23] предсказаны и нашли многократное экспериментальное подтверждение [34][35][36][37] эффекты аномального прохождения и экстинкции диффузного рас-сеяния. Эти эффекты, обусловленные влиянием условий динамиче-ской дифракции, изменяют картину диффузного рассеяния суще-ственно сильнее, чем характеристики дефектов.…”

“…Распределения интенсивностей диффузного рассеяния (Фурье-изо-бражения полей смещений) для мелких призматических петель различ-ной ориентации (см. [22]). …”