A simetrik nanogözeneklerin karakteristiği olan iyon akımı rektifikasyonu (doğrusallıktan sapma) davranışı, özellikle biyomolekül analizinde önemli bir olgudur. Nanogözeneklerdeki bu davranış, elektrik devrelerinde iyon akımının tek yönde gerçekleştiği diyotlara benzemektedir. Bu davranış, gözenek geometrisi, gözenek yüzey yük yoğunluğu, elektrolit iyon konsantrasyonu, uygulanan potansiyel ve basınç gibi belirli parametrelere bağlıdır. Bu çalışmada, konik nanogözenekteki iyonik akımların rektifikasyon davranışları deneysel olarak incelenmiş ve sonuçları teorik olarak doğrulanmıştır. Elektrolit çözeltisinin pH değerini değiştirerek, farklı rektifikasyon değerlerine sahip çeşitli akım-potansiyel (I-V) eğrileri elde edilmiştir. Bu değerler simülasyon sonuçları ile karşılaştırılarak nanogözenek duvarlarının yüzey yükü yoğunluğu için bir tahminde bulunulabileceği gösterilmiştir.