1996
DOI: 10.1016/0168-583x(95)00951-5
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Upgrading of the PIXE system at ININ (Mexico) and report on elemental composition of atmospheric aerosols from 1990 in the ZMCM

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“…En particular, para las técnicas analíticas elementales; es necesario dar información cuantitativa sobre aquellos elementos presentes en la muestra bajo investigación. En el caso de la técnica PIXE, la base para un análisis cuantitativo es que exista una relación entre el área neta de una línea característica de fotones de rayos-X y la cantidad del elemento en la muestra a analizar (densidad superficial) [46,5]. Considerando lo anterior, una vez que se ha .…”
Section: Calibración Del Sistema Pixeunclassified
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“…En particular, para las técnicas analíticas elementales; es necesario dar información cuantitativa sobre aquellos elementos presentes en la muestra bajo investigación. En el caso de la técnica PIXE, la base para un análisis cuantitativo es que exista una relación entre el área neta de una línea característica de fotones de rayos-X y la cantidad del elemento en la muestra a analizar (densidad superficial) [46,5]. Considerando lo anterior, una vez que se ha .…”
Section: Calibración Del Sistema Pixeunclassified
“…La determinación de la concentración de cualquiera de los elementos químicos presentes en la muestra, se llevó• a cabo en este trabajo utilizando la "curva de sensibilidad' calculada experimentalmente para el sistema PIXE del ININ. Este procedimiento se conoce como "calibración del sistema" [5]. La curva de sensibilidad se obtiene utilizando estándares espectroscópicamente puros [70] depositados sobre películas de densidad superficial conocida y de Z baja (C, O, H).…”
Section: Calibración Del Sistema Pixeunclassified
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