Wys and methods of efficiency increasing of the independent automated test systems of radio-electronic devices

Zherdev, M. K.; Kredentser, B. P.; Kuzavkov, V. V.

doi:10.18372/1990-5548.42.8838

Cited by 1 publication

(1 citation statement)

References 0 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…VT , закриті, а транзистор VT 3 відкритий, на виході підтримується високий потенціал [5][6][7]. Схема протікання струму в такому випадку представлено на рис.…”

Section: виклад основного матеріалуunclassified

Діагностична Модель Вихідного Транслятора Напівпровідникової Інтегральної Схеми

Kuzavkov¹,

Redziuk²

2019

CNCS

View full text Add to dashboard Cite

Військовий інститут телекомунікацій та інформатизації імені Героїв Крут ДІАГНОСТИЧНА МОДЕЛЬ ВИХІДНОГО ТРАНСЛЯТОРА НАПІВПРОВІДНИКОВОЇ ІНТЕГРАЛЬНОЇ СХЕМИПредставлено нову діагностичну модель базового логічного елементу (вихідного транслятора напівпровідникової інтегральної мікросхеми) для вдосконаленого індукційного методу діагностування. Процес визначення технічного стану сучасного радіоелектронного озброєння пов'язаний з реєстрацією та обробкою діагностичних параметрів. Основу цифрової схемотехніки становлять логічні інтегральні мікросхеми, особливості будови яких дозволили отримати математичні вирази для розрахунку значень діагностичного параметру визначення технічного стану як окремих компонентів цифрової електроніки так і цілком зразка радіоелектронного озброєння. Нова діагностична модель відображує зв'язок струму через вихідний транслятор логічної інтегральної мікросхеми з фізико-хімічними процесами, які відбуваються в напівпровідникових структурах радіоелектронних компонентів під час експлуатації (старіння).К лю чов і с лов а : діагностична модель, інтегральна схема, вдосконалений індукційний метод, радіоелектронне озброєння.

show abstract

Section: виклад основного матеріалуunclassified

Діагностична Модель Вихідного Транслятора Напівпровідникової Інтегральної Схеми

Kuzavkov¹,

Redziuk²

2019

CNCS

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

Wys and methods of efficiency increasing of the independent automated test systems of radio-electronic devices

Cited by 1 publication

References 0 publications

Діагностична Модель Вихідного Транслятора Напівпровідникової Інтегральної Схеми

Діагностична Модель Вихідного Транслятора Напівпровідникової Інтегральної Схеми

Contact Info

Product

Resources

About