X‐Ray Topography Characterization of the Bridgman‐Grown Crystals of Zinc Germanium Phosphide

Abstract

Samples of the Bridgman-grown nonlinear optic crystal of ZnGeP 2 are studied using the methods of topography on a laboratory source and on a synchrotron radiation source. Methods of quasi-plane-wave topography, white beam topography, and rocking curve topography are used. Dislocation bundles, growth striations, small-angle boundaries, and other defects are observed. The macroscopic distribution of defects in crystals and disorientations present in the crystal are studied. The mechanism of formation of images of growth striations is discussed. Digital analysis of the growth striations is carried out to characterize the growth process.

Defect structure formation in quartz single crystal at the early stages of deformation

“…However, different crystal areas did not reflect simultaneously due to dispersion. In this case, an image of the entire crystal is obtained by plotting a map of distribution of the peak intensity values (on the peak of the diffraction reflection curve) for the whole array of topograms obtained with different angular positions of the crystal [20]. A topogram array can be also used to make a map of distribution of crystal swing curve width, being a characteristic of its perfection [21].…”

Формирование Дефектной Структуры Монокристалла Кварца На Ранних Этапах Деформирования

“…Однако вследствие дисперсии разные участки кристалла отражали неодновременно. В этом случае для получения изображения всего кристалла строится карта распределения пиковых значений интенсивности (на пике кривой дифракционного отражения) по всему массиву топограмм, полученных при различных угловых положениях кристалла [20]. Также массив топограмм может быть использован и для построения карты распределения ширины кривой качания кристалла, являющейся характеристикой его совершенства [21].…”