Zum Nachweis von Versetzungen in β‐Kupferphthalocyanin‐Einkristallen

Abstract

Zum Nachweis von Versetzungen in p -Kupf erphthalo cyanin-Ein krist allenFiir den Nachweis von Versetzungen in /?-Kupferphthalocyanin-Einkristallen wurde eine Atztechnik entwickelt und angewandt. Unter Berucksichtigung des zu erwartenden Versetzungsgehaltes und der Syinmetrie der Gruben werden praktisch symmetrische Gruben auf den { 201}-und {001}-Fliichen auf [010]-Stufenversetzungen mit (001)-bzw. (201)-Gleitebenen und unsymmetrische Gruben sowohl auf { 001) als auch auf { 201) auf [010]-S tuf enversetzungen mit ( 100)und ( 101 ) -Gleitebenen zuriickgefiihrt . Die Versetzungsdichte auf Wachstums-und Spaltfliichen liegt in der Regel unter 100 cm-*. Das Auftreten von [010]-Schraubenverset.zungen wurde nicht na,chgewiesen, kann jedoch nicht ausgeschlossen werden. An etching technique was developed to investigate dislocations in /3-copper phthalocyanine single crystals. Considering the expected content of dislocations and the etch pit symmetry the symmetric etch pits are correlated t o [010]-edge dislocations on { 20i}-and {001}-lattice planes with (001)-and (201)-slip planes. Asymmetric etch pits on (001)-and { 20I}-planes are connected with [010]-edge dislocations related to (100)-and (1Oi)-slip planes. The dislocation density on growth planes and cleavage planes is commonly lower than 100 cm-*. [010]-screw dislocations are not observed, but their existence could not be excluded.