2020
DOI: 10.21883/os.2020.05.49322.343-19
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Анализ Рассеяния На Тонком Диэлектрическом Цилиндре При Помощи Метода Диаграммных Уравнений

Abstract: Развита методика приближенного расчета характеристик рассеяния, основанная на использовании метода диаграммных уравнений (МДУ). Получены явные формулы для интегральных характеристик рассеяния, применимые для тонких диэлектрических цилиндров довольно произвольного поперечного сечения. Применимость полученных соотношений проанализирована на примерах рассеяния на эллиптическом цилиндре, на цилиндре, поперечное сечение которого имеет форму суперэллипса, многоугольника и многолистника. Как показывают приведенные ре… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0

Publication Types

Select...

Relationship

0
0

Authors

Journals

citations
Cited by 0 publications
references
References 7 publications
0
0
0
Order By: Relevance

No citations

Set email alert for when this publication receives citations?