Гальваномагнитные свойства тонких пленок Bi-=SUB=-95-=/SUB=-Sb-=SUB=-5-=/SUB=- на подложках с различным температурным расширением

Abstract

Results of an investigation of galvanomagnetic properties of Bi_95Sb_5 block thin films on substrates with different coefficients of thermal expansion covered with polyimide are presented. The difference between thermal expansions of the film material and the substrate was found to have a strong effect on the films’ galvanomagnetic properties. Analysis of the properties of the films using the two-band model showed that the concentration and mobility of the charge carriers in the Bi_95Sb_5 films are related to the coefficient of thermal expansion of the substrate material.

Влияние отжига при температуре выше температуры солидуса на структуру и гальваномагнитные свойства тонких пленок твердого раствора Bi-=SUB=-92-=/SUB=-Sb-=SUB=-8-=/SUB=-

“…Исследование структуры пленок проводилось с использованием атомно-силового микроскопа Solver P47-Pro в полуконтактном режиме на воздухе с исполь-зованием методики, предложенной в [8,9]. Структура пленок также исследовалась с использованием рент-геновского дифрактометра ДРОН-7 в медном K α -излу-чении и растрового электронного микроскопа EVO-40 фирмы Carl Zeiss, оснащенного дифракционной пристав-кой HKL Nordlys Nano.…”

“…Дифракто-граммы, полученные от поверхности пленок Bi 92 Sb 8 позволило визуализировать блочную структуру пленок, определить взаимную кристаллографическую ориента-цию блоков и их размер. На рис.…”

“…Отжиг пленок висмута, полученных вакуумным на-пылением на кристаллическую подложку (слюда муско-вит), приводит к существенному изменению их структу-ры и свойств [1][2][3][4]. При этом влияние отжига зависит от исходной структуры пленки.…”

“…Такое различие влияния отжига обусловлено различной исходной структурой пленок. В обоих слу-чаях структура пленок подобна: ось C 3 блоков перпен-дикулярна плоскости подложки, но при температурах подложки 350−410 K реализуется согласованная кри-сталлографическая ориентация соседних кристаллитов с антипараллельным направлением осей C 2 в то время как при температуре подложки выше 420 K появляются блоки с произвольной ориентацией оси C 2 в плоскости пленки [1].…”

Структура, проводящие и отражающие свойства аморфных гранулированных композитных пленок (Co-=SUB=-45-=/SUB=-Fe-=SUB=-45-=/SUB=-Zr-=SUB=-10-=/SUB=-)-=SUB=-x-=/SUB=-(ZrO)-=SUB=-1-x-=/SUB=-

“…С развитием нанотехнологий исследованиям релье-фа поверхности многослойных и композитных струк-тур, тонких металлических пленок и сплавов, вы-ращенных различными методами и нанесенных на подложки из различных материалов, выявлению но-вых особенностей структуры, а также их влиянию на различные свойства уделяется значительное внима-ние [1][2][3][4][5][6][7][8][9][10][11][12][13][14][15]. Особое место в этих исследованиях занимают аморфные пленки [16][17][18][19][20], отличающиеся уникальны-ми свойствами по сравнению с их кристаллическими аналогами.…”