2017
DOI: 10.21883/ftp.2017.09.44887.8018
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Деградация кремниевых тонкопленочных микроморфных (alpha-Si/mu c-Si) солнечных модулей: оценка сезонной эффективности на основе данных мониторинга

Abstract: Разработан метод оценки эффективности работы alpha-Si/mu c-Si солнечных модулей на основе анализа данных мониторинга значения тока и напряжения в точке максимальной мощности и данных измерения температуры поверхности модуля. Приведена методика оценки параметров работы alpha-Si/mu c-Si модулей в ходе эксплуатации после начальной деградации модуля, и произведено сравнение результатов оценки параметров со значениями, измеренными в лаборатории. Ошибка оценки параметров не превысила 3%, для максимальной мощ… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
0
0
2

Year Published

2019
2019
2019
2019

Publication Types

Select...
1

Relationship

0
1

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(2 citation statements)
references
References 7 publications
0
0
0
2
Order By: Relevance
“…При этом физическое обоснование выбранной математической операции не приводится. В этой связи заметим, что необходимость математического описания результирующего физического процесса или описывающего его параметра, формируемого объединением двух и более независимых процессов или параметров, часто возникает в физике полупроводников [7,8]. Ее решение сводят к простым операциям: сложению, вычислению среднего геометрического значения и т. д. Выбор операции определяется физической моделью, описывающей рассматриваемое объединение парциальных процессов.…”
Section: методика моделированияunclassified
See 1 more Smart Citation
“…При этом физическое обоснование выбранной математической операции не приводится. В этой связи заметим, что необходимость математического описания результирующего физического процесса или описывающего его параметра, формируемого объединением двух и более независимых процессов или параметров, часто возникает в физике полупроводников [7,8]. Ее решение сводят к простым операциям: сложению, вычислению среднего геометрического значения и т. д. Выбор операции определяется физической моделью, описывающей рассматриваемое объединение парциальных процессов.…”
Section: методика моделированияunclassified
“…Такая незаконченность исследования влияния легирования отрицательно сказывается на развитии светоизлучающих элементов оптоэлектроники. По мнению авторов, сложившаяся ситуация имеет свои объективные причины и усугубляется тем, что в настоящее время прямых экспериментальных доказательств положительного влияния легирования на люминесцентные свойства полупроводников [3][4][5][6][7][8][9][10] недостаточно.…”
Section: Introductionunclassified