В кристалле CdSe методом перестраиваемой ЭПР-спектроскопии в диапазоне частот 70-320 GHz изучены примесные ионы Cr2+. Обнаруженные ян-теллеровские тетрагональные искажения ближайшего окружения иона хрома подтверждают результаты недавних ультразвуковых исследований. Определен набор спектроскопических параметров, позволяющий получить согласие расчетных и экспериментальных угловых и частотно-полевых зависимостей спектров ЭПР. Ключевые слова: высокочастотная ЭПР-спектроскопия, эффект Яна-Теллера, полупроводниковые кристаллы, двухвалентный хром.