Морфология Межслоевой Поверхности И Микро-Рамановские Спектры В Слоистых Пленках Топологических Изоляторов На Основе Теллурида Висмута

Abstract

В тонких слоистых пленках n-Bi2Te3 и твердых растворов на основе Bi2Te3 исследованы резонансные микро-рамановские спектры и морфология межслоевой ван-дер-ваальсовой поверхности. Установлено влияние состава, толщины, морфологии поверхности и метода получения пленок на относительную интенсивность рамановских фононов, чувствительных к поверхностным топологическим состояниям фермионов Дирака. DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44553.13

Дефекты межслоевой поверхности и термоэлектрические свойства в слоистых пленках топологических изоляторов n-Bi-=SUB=-2-=/SUB=-Te-=SUB=-2.7-=/SUB=-Se-=SUB=-0.15-=/SUB=-S-=SUB=-0.15-=/SUB=-

“…Морфология межслоевой поверхности (0001), на которой проводились измерения термоэлектрических свойств, была исследована методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) с целью идентификации дефектов, которые оказывают влияние на термоэлектрические свойства. Выбор пленок указанного состава связан с результатами исследований микрорамановского рассеяния [24] и дифференциальной туннельной проводимости методом сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) [25], которые показали, что влияние поверхностных состояний фермионов Дирака возрастает в подобных составах твердых растворов с высокими значениями коэффициента Зеебека. Наибольшее снижение угловых коэффициентов в пленках наблюдается при температурах ниже и вблизи температуры Дебая T D , что объясняется преимущественным влиянием рассеяния на точечных дефектах: собственных донорных антиструктурных дефектах и нейтральных примесных дефектах, возникающих при замещении атомов теллура на селен и серу при образовании твердого раствора (рис.…”