“…Методы ферромагнитного (ФМР) и спин-волнового (СВР) резонанса известны как надежные инструменты при определении фундаментальных параметров магнитных материалов: эффективной намагниченности M e f f , константы обменного взаимодействия A (в диапазоне волновых векторов k = (1−20) • 10 5 cm −1 ) и спин-волновой жесткости η, константы поверхностной анизотропии K S . Объектами исследования могут выступать самые разные классы материалов -тонкие ферромагнитные пленки [1][2][3][4][5], порошковые системы [6,7], разбавленные магнитные полупроводники [8,9], нанокомпозиты ферромагнитный металл-диэлектрик [10][11][12], а также ферригидридные наночастицы биологического и химического происхождения [13,14]. Угловые зависимости резонансных полей, как в перпендикулярной, так и в параллельной ориентации постоянного магнитного поля H относительно плоскости тонкой пленки, позволяют получить информацию о наличии и величине вклада анизотропии разного вида -магнитокристаллической, магнитоупругой, поверхностной [8,[15][16][17].…”