2019
DOI: 10.21883/ftp.2019.05.47551.09
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Термоэлектрические и гальваномагнитные свойства слоистых пленок n-Bi-=SUB=-2-x-=/SUB=-Sb-=SUB=-x-=/SUB=-Te-=SUB=-3-y-=/SUB=-Se-=SUB=-y-=/SUB=-

Abstract: n nanostructured layered films of topological thermoelectrics n-Bi2−xSbxTe3−y Sey , thermoelectric properties in the temperature range of 4.2−300K and magnetoresistance oscillations in strong magnetic fields at low temperatures were studied. It is shown that thermoelectric efficiency in the layered n-Bi2−xSbxTe3−y Sey films increases as compared with bulk material due to both an increase in the Seebeck coefficient at the temperatures below room one, and a decrease in thermal conductivity and weakening of its t… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0
2

Year Published

2022
2022
2022
2022

Publication Types

Select...
1

Relationship

1
0

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(2 citation statements)
references
References 7 publications
0
0
0
2
Order By: Relevance
“…Рост количества замещенных атомов в твердых растворах также приводит к снижению величин H M и H S . Наименьшие значения H M = 0.0508 нм и H S = 0.0112 нм были получены в составе n-Bi 1.6 Sb 0.4 Te 2.94 Se 0.06 при S = −280 мкВ • K −1 с высокой термоэлектрической эффективностью Z, величина которой определяется уменьшением теплопроводности, ослаблением ее температурной зависимости и ростом коэффициента Зеебека при слабом снижении электропроводности[15].В слоистой пленке n-Bi 1.6 Sb 0.4 Te 2.94 Se 0.06 среднее значение эффективности достигало Z = 3.45 • 10 −3 K −1 в интервале температур T = (80−250) K. Для объемного образца Z = 2.9 • 10 −3 K −1 при тех же температурах. Максимальное значение Z max = 3.65 • 10 −3 K −1 при 185 K для пленки и 3.1 • 10 −3 K −1 при 200 K для объемного образца[15].…”
unclassified
See 1 more Smart Citation
“…Рост количества замещенных атомов в твердых растворах также приводит к снижению величин H M и H S . Наименьшие значения H M = 0.0508 нм и H S = 0.0112 нм были получены в составе n-Bi 1.6 Sb 0.4 Te 2.94 Se 0.06 при S = −280 мкВ • K −1 с высокой термоэлектрической эффективностью Z, величина которой определяется уменьшением теплопроводности, ослаблением ее температурной зависимости и ростом коэффициента Зеебека при слабом снижении электропроводности[15].В слоистой пленке n-Bi 1.6 Sb 0.4 Te 2.94 Se 0.06 среднее значение эффективности достигало Z = 3.45 • 10 −3 K −1 в интервале температур T = (80−250) K. Для объемного образца Z = 2.9 • 10 −3 K −1 при тех же температурах. Максимальное значение Z max = 3.65 • 10 −3 K −1 при 185 K для пленки и 3.1 • 10 −3 K −1 при 200 K для объемного образца[15].…”
unclassified
“…Наименьшие значения H M = 0.0508 нм и H S = 0.0112 нм были получены в составе n-Bi 1.6 Sb 0.4 Te 2.94 Se 0.06 при S = −280 мкВ • K −1 с высокой термоэлектрической эффективностью Z, величина которой определяется уменьшением теплопроводности, ослаблением ее температурной зависимости и ростом коэффициента Зеебека при слабом снижении электропроводности[15].В слоистой пленке n-Bi 1.6 Sb 0.4 Te 2.94 Se 0.06 среднее значение эффективности достигало Z = 3.45 • 10 −3 K −1 в интервале температур T = (80−250) K. Для объемного образца Z = 2.9 • 10 −3 K −1 при тех же температурах. Максимальное значение Z max = 3.65 • 10 −3 K −1 при 185 K для пленки и 3.1 • 10 −3 K −1 при 200 K для объемного образца[15]. Характер поведения термоэлектрических свойств как в слоистых пленках, так и в объемном твердом растворе n-Bi 1.6 Sb 0.4 Te 2.94 Se 0.06 связан в основном с особенностями рассеяния носителей заряда и фононов, на которое оказывают влияние примесные и собственные дефекты, образующиеся в процессе кристаллизации термоэлектрика.…”
unclassified