Проведен анализ анизотропии свойств твердого раствора Bi 2 Se 0.3 Te 2.7 с помощью построения указательных поверхностей для коэффициентов термоэлектрической эффективности и термического расширения. Текстура является важным фактором, формирующим анизотропию свойств и технологическую пригодность слитка для изготовления модулей. Проведен анализ анизотропии свойств на основе изучения текстуры в слитках, полученных модифицированным методом Бриджмена (выращивание термоэлектрических пластин в плоской полости). Анализ текстуры показал, что для предложенного метода кристаллизации существенным фактором, влияющим на формирование структуры термоэлектрического материала, является не только скорость кристаллизации, но и конструктивное исполнение кристаллизационной полости. При уменьшении толщины пластины в результате изменения условий теплоотвода в тонком зазоре можно получить более совершенную структуру. DOI: 10.21883/FTP.2017.08.44789.58 В диапазоне температур 250−450 K наиболее перспек-тивными термоэлектрическими материалами остаются твердые растворы на основе теллурида висмута. В этом температурном диапазоне они могут использоваться как для систем охлаждения, так и в качестве генераторных материалов при относительно невысокой температуре (низкопотенциального) источника тепла. В последнее время особый интерес проявляется к наноструктури-рованным термоэлектрическим материалам, в которых наблюдается значительное увеличение параметра тер-моэлектрической эффективности Z [1][2][3]. Но и в ма-териалах, полученных кристаллизацией из расплава, тоже можно добиться увеличения термоэлектрической эффективности до 70% [4][5][6][7].Одной из существенных проблем получения слитков термоэлектрических материалов методом кристаллиза-ции из расплава является проблема напряжений, кото-рые приводят к растрескиванию и разрушению материа-ла при дальнейшей механической обработке в процессе изготовления термоэлементов.Уровень напряжений в слитках определяется как тем-пературными градиентами, так и анизотропией коэф-фициентов термического расширения (КТР) соседних зерен с разной ориентировкой и положением границ между ними, а также возможной химической неоднород-ностью материала.В данной работе объектом исследования служили образцы термоэлектрического материала n-типа про-водимости на основе твердого раствора Bi 2 Te 2.7 Se 0.3 , полученного кристаллизацией из расплава модифициро-ванным методом Бриджмена [8], который заключается в выращивании термоэлектрических пластин в плос-кой полости. Проведен анализ анизотропии свойств с помощью построения указательных поверхностей для коэффициентов термоэлектрической эффективности и термического расширения. Структуру исследовали ме-тодом рентгеновской дифрактометрии на установке D8 Discover фирмы Bruker.Для анализа кристаллографической анизотропии и связанной с ней анизотропии физических свойств бы-ла построена диаграмма анизотропии термоэлектриче-ской эффективности Z для тройного твердого раство-ра Bi 2 Te 2.7 Se 0.3 (рис. 1). Сечение эллипсоидов враще-ния описывается уравнением указательной поверхности те...