2020
DOI: 10.21883/pjtf.2020.17.49884.18373
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Тест На Соответствие Режиму Холодной Полевой Эмиссии С Применением Приближений Элинсона-Шредника И Форбса-Дина (Координаты Мерфи-Гуда)

Abstract: A test is described in the paper, which allows one to determine the correspondence of experimental data to the classical field dependence. The test is presented in two versions: using the Elinson-Shrednik approximation to the current-voltage characteristics in the classical Fowler-Nordheim coordinates, as well as the modern Forbes-Deane approximation with modified Murphy-Good plot. The application of the test is shown by the example of a study of a multi-tip emitter based on carbon nanotubes. The technique of … Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0
3

Year Published

2022
2022
2022
2022

Publication Types

Select...
2

Relationship

2
0

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(3 citation statements)
references
References 11 publications
0
0
0
3
Order By: Relevance
“…Площадь эмиссии каждого центра была задана равной A e = 10 nm 2 , работа выхода ϕ = 4.6 eV, коэффициенты усиления поля приняты равными γ = 1550, 1600, 1650, 1700, 1900. Для расчета плотности эмиссионного тока каждого центра была использована формула Фаулера−Нордгейма в приближении Елинсона−Шредника [9]:…”
unclassified
See 1 more Smart Citation
“…Площадь эмиссии каждого центра была задана равной A e = 10 nm 2 , работа выхода ϕ = 4.6 eV, коэффициенты усиления поля приняты равными γ = 1550, 1600, 1650, 1700, 1900. Для расчета плотности эмиссионного тока каждого центра была использована формула Фаулера−Нордгейма в приближении Елинсона−Шредника [9]:…”
unclassified
“…В случае плоскопараллельных электродов, когда межэлектродное расстояние много больше высоты эмис- где A e f f = 7577 nm 2 -эффективная площадь эмиссии, полученная путем построения линии тренда к ВАХ в координатах Фаулера−Нордгейма [9], N = 767 -число эмиссионных центров, зарегистрированных с помощью полевого проектора. В дополнение по данным СЭМ радиус закругления вершин УНТ опытного образца составляет 2−4 nm, что находится в хорошем согласии с площадью эмиссии A e .…”
unclassified
“…Экспериментальный стенд состоит из компьютеризированной установки, которая позволяет регистрировать и обрабатывать в режиме онлайн вольт-амперные характеристики полевых эмиттеров [7]. ВАХ получаются в режиме быстрого сканирования: полусинусоидальный импульс амплитудой U m ∼ 1 kV дает одну ВАХ каждые 20 ms. Также стенд включает в себя полевой эмиссионный проектор с онлайн обработкой картин свечения [8].…”
unclassified