“…На интерференции света, отраженного от неоднородных поверхностей, основаны методы измерения и контроля, позволяющие исследовать микросмещения и микродеформации рассеивающих объектов технического и биологического происхождения [1][2][3][4][5][6][7][8][9][10][11][12][13][14], определять степень шероховатости рассеивающей поверхности [12,15]. В ряде практических задач в науке, технике, биомедицинских исследованиях возникает практическая необходимость измерять параметры движения рассеивающих объектов -микросмещения, скорость, ускорение.…”