Фоторезистивный детектор циркулярно-поляризованного излучения на основе МДП-структуры со слоем CoPt

Abstract

Создан фоторезистивный детектор циркулярно-поляризованного излучения на основе структуры металл-диэлектрик-полупроводник CoPt/(Al 2 O 3 /SiO 2 /Al 2 O 3 )/InGaAs/GaAs. Эффективность детектирования цирку-лярно-поляризованного излучения составляет 0.75% при комнатной температуре. Работа детектора основана на проявлении эффекта магнитоциркулярного дихроизма в слое CoPt -зависимости коэффициента пропускания CoPt от знака циркулярной поляризации света и намагниченности.Работа выполнена в рамках реализации государственного задания (проект № 8.1751.2017/ПЧ Минобрнауки России), при поддержке РФФИ (гранты 17-37-80008 мол_эв_а, 16-07-01102_а) и гранта (МК-8221.2016.2) Президента Российской Федерации.

Методы переключения поляризации излучения в GaAs лазерных диодах

“…4, кривая 1) на поверхности просветляющего диэлектрического покрытия и без пленки CoPt (рис. 4, кривая 2), позволяет заключить, что зарегистрированная нами циркулярная поляризация лазерного излучения связана с магнитооптическими эффектами, протекающими при отражении и пропускании света через слой CoPt, а именно аддитивным действием двух эффектов: спинзависимого отражения стимулированного излучения от полупрозрачного зеркала CoPt и магнитно-кругового дихроизма, заключающегося в поляризации излучения, прошедшего через намагниченный слой CoPt [12,18]. Эффект магнитно-кругового дихроизма дает вклад в циркулярную поляризацию света на уровне 0.5% [18].…”

“…Для создания лазеров, испускающих свет круговой поляризации, использован новый подход, основанный на формировании функционального слоя ла-зерной структуры (зеркала лазерного резонатора) из ферромагнитного материала. Спин-зависимое отражение или пропускание лазерного излучения ферромагнитным зеркалом обусловливает появление в излучении циркулярно-поляризованной компоненты [12]. В работе приводятся результаты исследования режимов работы лазерных структур с управляемой поляризацией света, в том числе результаты измерения поляризационных характеристик.…”