Приведены результаты теоретического и экспериментального обоснования возможности применения СВЧ фотонных кристаллов для создания широкополосных согласованных СВЧ-нагрузок. Показана возможность использования СВЧ фотонных кристаллов для измерения толщины и проводимости нанометровых полупроводниковых слоистых структур. Экспериментально продемонстрирована возможность электрического управления амплитудно-частотными характеристиками СВЧ фотонных кристаллов. Определены пути уменьшения размеров устройств на фотонных кристаллах. Ключевые слова: СВЧ фотонный кристалл, согласованные нагрузки, измерения толщины и электропроводности, нанометровые полупроводниковые структуры, управление амплитудно-частотными характеристиками, резонатор СВЧ-микроскопа.